進行emc測（cè）試要知道（dào）的故障排除方法

為了保障產品（pǐn）質（zhì）量，所以在產（chǎn）品進入（rù）市場之前要進行嚴格標準的emc測試實驗。就比如單片機係統的（de）emc測試是電磁兼容故障排除技術的新應（yīng）用，能保證設備在電磁環境中能（néng）正常工作，並且不對環（huán）境中的其（qí）它事物造成不能承受的騷擾。

在測試過（guò）程中難免（miǎn）會出現各種各樣的問題，但是要怎麽樣來避免和排除這些出（chū）現的故障（zhàng）也（yě）是測試過程中非常重要的（de）。

emc測試方法一般分為4類；傳導（dǎo）發（fā）射測試（shì）、輻射發射測試、傳導敏感度（抗擾度）測試和輻射敏感度（抗擾度（dù））測（cè）試。所以在emc測試之前要明確要測試的項目是屬於哪（nǎ）一類測試，在進行下一步，這邊謎底明（míng）確就（jiù）可以大大減（jiǎn）少emc測試過程中會出現的故障。

要提前做好（hǎo）emc測試的準備，首先要選好測試（shì）用的實驗場地，emc測試的實驗室分為電波半暗室和屏蔽室兩種。電波半暗室適用於輻射發射和輻射敏感度測試的（de），屏蔽室是用於傳導發射和換到敏（mǐn）感度測試的。還要對測試環境中的電（diàn）平嚴格要求，傳（chuán）導和輻射的電磁環境電平要低（dī）於標準規定的（de）極限值。

要準備好實驗桌，測試設備和被測試的設備要做好安全的隔離等（děng）等。做好這些基礎（chǔ）的測試前的準備，能大大減少在emc測試中故障的出現。還（hái）有一些故障是不能提前預防的，在測試中（zhōng）電磁兼容設備如果出現故障，那麽就要以快的、好（hǎo）的方法減少對（duì）設備的損壞，首先要進行傳（chuán）導性問題的解決。

可以通過串聯一（yī）個高阻抗來減少（shǎo）BMI電流，並聯一個低阻抗將（jiāng）BMI電流引流到其它導體中。還可（kě）以通過電流隔離（lí）切斷（duàn）BMI電流，或者通過自身作用還（hái）抑（yì）製BMI電流。

以上（shàng）就是一些emc測試排除故（gù）障的方法。