一種測量線纜屏蔽層好壞的高效辦（bàn）法

我們將介紹如（rú）何使用靜電發生器（qì），電流鉗和示波器，快速測（cè）量線纜屏蔽質量的好（hǎo）壞。

圖1.ESD信號發生器對屏蔽線纜屏蔽層放電

圖1顯示了（le），靜電發生器直接注入ESD信號到同軸電纜的屏蔽層上（shàng）。當靜電放電，電流流過電纜屏蔽（bì）層時，一些不希望出現的ESD“信號（hào）”會通過屏蔽層和連接器中的缺（quē）陷泄漏（lòu）出去。泄露量的多少與屏蔽層阻抗（kàng）和（hé）高頻特性有直接（jiē）關（guān）係。

IEC 61000-4-2 ESD信號發生器的（de）電流波形包含高頻和低頻分量，可參考（kǎo）圖2。高頻分量包含在波形的上升（shēng）沿中（zhōng）（上升時間小於1納秒），而上（shàng）升時間後半段的幾（jǐ）十（shí）納秒波（bō）形中包含了低頻分量。波形的高頻和低頻分（fèn）量（liàng）可用（yòng）於快速確定電纜屏蔽層在（zài）較寬的頻率範圍內（nèi）的屏蔽效果。

 圖2. IEC 61000-4-2中（zhōng）ESD的電（diàn）流波形

 圖3顯示了測試布置的測量端。測試電纜端接到示波器。電流探頭用於測量屏蔽層上流過的ESD電流，電流探頭另一端（duān）連接到（dào）示波器的輸入端。

 圖3.接收端電流探頭和示波（bō）器

圖4顯示了，屏蔽層較差的同（tóng）軸電纜的測試情況。靜電發（fā）生器設置輸出電壓為500V。紅色的測試波（bō）形顯示（shì），ESD電流波達（dá）到1A，且初始上升沿電壓（yā）接近7V，由於高（gāo）頻（pín）阻抗較大的原因，當ESD電流（liú）在經過屏蔽層的時候，產生加大的壓降，上升沿電壓值體（tǐ）現了此屏蔽線高頻特性較差。此外從測試波形看，低頻（pín）部分幾十納秒的時間裏，電壓幅值也偏高，這表明電纜屏蔽層在（zài）較低的頻率下具有明顯的阻抗。

圖4測試波形對應的電纜是（shì）便宜的同軸電纜，帶有金屬化聚脂薄膜（mó）的（de）屏蔽層，在金屬箔的周圍隻（zhī）有幾（jǐ）根非常細的屏蔽線。

 圖4.高阻抗屏蔽電（diàn）纜電（diàn）壓和（hé）電流波形

 圖5顯示了高（gāo）質量屏蔽的50Ω同軸電纜（雙層屏蔽，屏蔽層編織線稠密）的測試結果（guǒ）。電壓（yā）峰值僅為200 mV。另外，電壓響應的低頻分量很小，這表明屏蔽（bì）層（céng）的阻抗很低。

 總結：將ESD信號發生器輸出應用於電纜屏蔽層，可以快速了解屏蔽層的好壞。並能從測量波形中看出屏蔽層阻抗（kàng）的大（dà）小和（hé）高頻特性的好壞。