高頻噪聲模擬器（使用半導體繼電器）　INS-S420

為了解決市（shì）場（chǎng）上出現（xiàn）的問題

此設備是模擬（nǐ）類似開關元件觸點之間的放電，電（diàn）子（zǐ）馬達產生的電弧放電等，上升時間很（hěn）快，高頻率的噪聲，來評價電子設備的抗幹擾能力的測試設備。

因為包含測試（shì）脈衝中（zhōng）的頻率成分的脈衝寬度（dù）很寬，另外通過改變脈衝（chōng）的寬度，也可（kě）以改變脈衝能（néng）量的（de）強度，能實（shí）現市場上對於噪聲問題的再現性很（hěn）高的（de）噪聲測試。

• 由於脈衝寬度等的（de）設定隻需按鈕操作即可進行，因此可以縮短（duǎn）設定試驗條件的時（shí）間。

• 提高了測試脈衝波形的（de）穩定性，實現了高重（chóng）複性的測試。

• 減少耗材數量，降低成本。

• 通過使用短插頭，可以（yǐ）輕鬆地設置共模測試和差模測（cè）試之間的（de）切換（huàn）。

• 通過TEST TIME的設定，可以設定測試時間。

• 在測試器中內（nèi）置50歐姆係統終（zhōng）端器，便於布線。

• 可以在更快的脈衝（chōng）重（chóng）複（fù）周期進行測試。（僅限INS-S220）

• 插座麵板允許直接連（lián）接EUT交流插頭。（可（kě）選）

• 使用各種探頭，耦合夾（jiá）等進行各種測試。（可選）

• 通過增加外置疊加單元(CDN)，還可以測試EUT電源容量三相。（可選）

• 使用專用軟件可以在各種測試（shì）條（tiáo）件下進行（háng）測試。（可選，僅限INS-S420）

解決市場上（shàng）出現的問題：高頻率，能量可調試驗脈衝

脈衝寬（kuān）度小的50ns～100ns程度的高頻噪聲，能量是比較小（xiǎo），但是（shì）短時（shí）間內2次的波形上升以及下降造成（chéng）的電（diàn）壓變（biàn）動，急速變動時發生的電磁場的耦合可以影響電子回（huí）路。
另外，脈衝寬度寬的800ns～1000ns 的高頻噪（zào）聲，因為能量比較大，能容易地給回路施加很大（dà）的電壓變動。高頻噪聲測試（shì）與國際標準IEC 61000-4-4群脈衝（chōng）測試相比（bǐ）較，因為上（shàng）升時間快，頻率成分高（gāo）是他的特征。這樣對EUT施加幹擾時，更容（róng）易侵入電路（lù），更（gèng）容易影響電（diàn）子回路。

還有，由於高頻噪聲的脈衝寬度不同，包含的（de）頻譜的成分（fèn）及強度也不同（tóng），建議用不同脈衝寬度的田間進行多種類測試。

設置的簡（jiǎn）單（dān）化：能縮短設置上所花的時間

舊型號的脈衝寬度設置需要手動地用專用的同（tóng）軸電纜連接切換，但是新型號隻需要操作按（àn）鈕就能進行設定，縮短了設定的時間以及減少了連線（xiàn）錯誤的情況。

成本的削減：減少（shǎo）了消耗品的交換

由原來的水銀（yín）繼電器（qì）方式（消耗品）改成（chéng）半導體繼電器。

另外，因為不使用（yòng）脈（mò）衝寬度設（shè）置用同（tóng）軸線。

連接的（de）簡（jiǎn）略化（huà）：能縮短（duǎn）連接上所花的時間

跟EUT的連接采用簡單的輸出麵板的方式。使用各個國家的插座形狀（zhuàng）的輸出麵板，能非常簡單的進行連接。

對噪聲容易進行整改：能夠判（pàn）定誤動作（zuò）產（chǎn）生（shēng）源

我們準備了從（cóng）電源線，通信線，線束和外殼到基板的各種各樣的幹（gàn）擾施加用選件，更能（néng）容易的找出誤動作發生處。

規格