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靜電對(duì)電子產品(pǐn)破(pò)壞的表現

更新時間:2024-01-08      點擊次數:1800
靜電產生主要來(lái)自4個方麵:與其他物質的接觸與分離、電荷釋放、接收外來電荷、物(wù)質內部電荷的(de)位移以及偶極(jí)子(zǐ)取向和(hé)固定。
靜電對電子產品的(de)破壞表現也有4個方(fāng)麵:
1. 靜電吸附灰塵,降低元件絕緣電阻,縮短壽命;
2. 靜電放電破壞,使元件受損不能工作;
3. 靜電(diàn)放電(diàn)電場或電流產生的熱使元(yuán)件受損(sǔn);
4. 靜電(diàn)放電產(chǎn)生幅度(dù)很大,頻譜極寬(從幾十兆到幾千兆,達幾百伏(fú)/米)的電磁場使電子產品受電磁幹擾損壞。
想完()全控製靜電是十分困難的,這(zhè)是(shì)由於(yú)靜電(diàn)對電子產品的損壞具有隱蔽的、潛在的、隨(suí)機的、複雜的特點。例如,產生可以聽見“嘀噠"一聲的放電需(xū)要累積大(dà)約2000伏的相當較大的電荷,而3000伏才可以(yǐ)產生人體小感覺的電擊,5000伏才可以(yǐ)看見火(huǒ)花。人體在(zài)幹(gàn)燥的季(jì)節(jiē)裏(lǐ)活動可以(yǐ)產生幾千伏乃(nǎi)至數萬伏,然而大部分敏感的電子元件僅(jǐn)能承(chéng)受幾(jǐ)百伏的靜電壓。

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例如:如果帶有足夠高電荷的電氣絕緣的導體(螺(luó)絲起子)靠(kào)近(jìn)有相反電勢的集成電路(IC)時,電荷“跨接",引起靜電放電(ESD)。
ESD以極()高的(de)強度很迅速地發生,通常將產生足夠的熱量熔化半導體芯片的內部電路,在電子(zǐ)顯微鏡下的外表向外吹出的小彈(dàn)孔,引(yǐn)起即時(shí)的、不可逆轉的損(sǔn)壞。而且ESD有可能產生出幅度很大頻譜極寬的電磁波使周邊電子器件失效。
更加嚴重的是,這種危害隻有10%的情況(kuàng)能引起失效。其它90%的情況,ESD損壞隻引起部分的降級,這意味著損壞的元件可毫無(wú)察覺地通(tōng)過最(zuì)後測(cè)試,商(shāng)品到客戶手中後出現過早的現場失效,會直接影響廠商的信譽。
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